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军用分立半导体器件的现场可靠性研究

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本文依据现场数据进行了的分立半导体的可靠性研究,给出了失效模式分布和失效率,就现场出现多次失效的元器件分析了原因,并提出了相应的改进建议.

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来源
《第九届全国可靠性物理学术讨论会》|2001年|77-80|共4页
会议地点延安
作者
朱启新;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
半导体器件; 可靠性; 失效模式; 失效率;
入库时间 2022-08-17 10:20:54

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