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椭偏测量技术在碲镉汞液相外延材料上的应用

摘要

本文采用椭圆偏振技术,对液相外延(LPE)生长的碲镉汞薄膜材料的组分及其组分的纵向分布进行了测量和研究.结果发现经P型热处理后的外延材料存在组分较低的表面层;去除表面效应和界面处组分互扩散的影响,薄膜材料的组分纵向分布具有很好的均匀性,其组分分布的均方差小于0.005.

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