基于边界扫描的电路板测试性优化设计

摘要

目前,边界扫描技术已成为电路板及器件的主要测试性设计技术之一.基于边界扫描的电路板测试性设计中,近切需要解决“测试性改善程度一定时,如何权衡设计使得设计复杂性最小”的问题.本文首先深入分析了该问题,证明其是—NP-完全问题,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法.仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案.