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平均瞬态电流测试向量产生方法的研究

摘要

本文论述了基于布尔过程的平均瞬态电流测试(I<,DDT>)ATPG方法实现的主要困难,本文应用遗传算法,对CMOS电路固定开路故障做平均瞬态电流测试I<,DDT>测试产生,产生无冒险的测试向量对,给出了ISCAS85、ISCAS89部分电路的实验结果.实验结果表明,对于规模较小且逻辑深度较小的电路,用此方法可以取得较好的结果.

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