X射线荧光光谱测定纯铝及铝合金中杂质元素

摘要

报道了X射线荧光光谱法测定纯铝、铝合金中Fe、Si、Cu、Ga、Mn、Zn、Ti、Mg和Cr等元素的分析方法.样品经车床或锉刀处理,峰值计数方式,大部分元素无需基体校正,样品分析结果与电感耦合等离子体发射光谱法对照,结果一致.方法的相对标准偏差RSD<3﹪(n=7).