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机译：化学测定金属（尤其是铜）中少量杂质元素的方法
公开/公告号DE1498991A1
专利类型
公开/公告日1970-02-19
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AG;
申请/专利号DE1963S086907
发明设计人 KLEISTHARALD;
申请日1963-08-27
分类号G01N33/20;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 11:14:20
机译： 化学测定金属（尤其是铜）中少量杂质元素的方法
机译： 用于浸出铜矿石和含铜产品的溶液的氢金属工艺，以及该工艺中使用的反应混合物，其中含有硝酸盐，铁离子和还原势为800m3 / enh或更高的化学元素。
机译： 像素单元，用于驱动像素单元的方法，用于确定模拟幅度调制信号的包络线的最大值的位置的方法，用于确定电荷量的装置，用于确定像素上的电荷量的装置和方法用于将电路节点设置为预定电压的电容性元件，装置和方法，用于基于电荷的模拟/数字转换的装置和方法以及用于基于电荷的信号处理的装置和方法
