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表层微结构敏感的同步辐射X射线实验方法研究及应用

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摘要

随着同步辐射这种强光源的出现和应用,人们开始利用X射线在材料表面的全反射现象来研究材料的表层结构和成分分布.本文将介绍同步辐射X射线实验方法及其在Ge/Si量子点微结构方面的应用.

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来源
《第八届全国X射线衍射学术会议》|2003年|229-229|共1页
会议地点南宁
作者
姜晓明; 贾全杰; 郑文莉; 何庆; 蒋最敏; 蒋伟荣;
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作者单位

中国物理学会;

中国晶体学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类射线衍射分析;
关键词
同步辐射X射线法; 材料表层微结构; Ge/Si量子点;

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