基于超快激光技术的Bi纳米薄膜相干光学声子研究

摘要

利用飞秒激光泵浦-探测技术测量了Bi纳米薄膜的相干光学声子.采用自相关技术测量得到探测光的脉宽约为45fs,采用探测光和泵浦光的互相关测量得到泵浦光经过脉冲整形以后的脉宽约为200fs,进而测量得到Bi纳米薄膜的对称振动模频率为2.86THz,与自发Raman散射测量的结果吻合.采用指数衰减函数与互相关信号的卷积拟合延迟时间在10ps以内的测量信号,确定了相干光学声子振幅衰减的特征时间约为2.59ps,与电子衰减特征时间相近,却远小于晶格加热的特征时间,从而为进一步揭示半导体内部载流子与声子的相互作用提供了依据.