首页> 中文会议>中国仪器仪表学会第六次全国会员代表大会暨学术会议 >一种基于混沌神经网络的自动测试生成算法

一种基于混沌神经网络的自动测试生成算法

摘要

阐述了一种基于混沌神经网络的自动测试生成(ATPG)算法,由神经元构成的双向神经网络来表示组合电路,神经元的阈值和神经元之间的连接权值则代表了电路的功能,给电路注入故障后,网络中的神经元的状态在满足测试序列的时候,神经网络的能量函数具有全局最小点.采用具有衰减步长的混沌模拟退火(CSA)算法来找到能量函数的最小点,实现了组合电路的自动测试生成.计算机仿真表明了算法的可行性.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号