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CRC与多重冗余结合实现RAM数据纠错

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本文介绍在单片机测控系统中,采用CRC校验与多重数据冗余相结合的方法,从而实现RAM、EEROM数据纠错和数据保护.

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来源
《第七届"测量与控制在资源节约、环境保护中的应用"学术会议》|2003年|531-532|共2页
会议地点沈阳
作者
华陈权;
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作者单位

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类微处理机;数据处理、数据处理系统;
关键词
数据冗余; 数据纠错; 数据保护;

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