288×4CCD读出电路损坏失效原因分析

摘要

对288×4CCD红外焦平面探测器测量过程中发现的CCD读出电路损坏失效问题进行了讨论,除了在显微镜下可观察到的CCD读出电路表面损伤、电极断路、短路等明显的失效原因外,对CCD供电电极VDD失效的影响因素进行了实验分析,通过实验说明了VDD与GND在短路时发生损坏失效的主要原因,得到的结果是,杜瓦引线和测试电缆构成的较大分布电容是造成这种损坏失效的诱导因素.静电、地线上的强干扰也是造成读出电路损坏失效的潜在因素.