首页> 中文会议>2003中国国际集成电路研讨会 >关于SOI(SIMOX)材料在注入过程中粒子污染的研究

关于SOI(SIMOX)材料在注入过程中粒子污染的研究

摘要

本文阐述了注氧机在制作SOI(SIMOX)材料时,注入过程对顶层硅中产生粒子污染的影响,结合SIMS测试结果,从光路结构、电器参数、靶室等方面阐述粒子污染的机理,并提出了相应的解决措施。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号