TEM图像分析测定片状粉体的三维粒度分布

摘要

目前,多数粒度仪是以球形颗粒为模型设计的.用于由大量片状颗粒构成的粉体的测定,误差较大,测定结果不能反映不同方向的尺寸.由于片状颗粒处于平躺和竖立状态的图像差别很大,仅对其两维图像进行分析,难以给出三维粒度结果.为此,提出了金属投影透射电镜(TEM)图像分析测定粉体三维粒度分布的新方法.金属投影以后,样品的背后形成一电子透明的阴影区.通过图像分析测量颗粒的影长,计算大量颗粒的高度.