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可靠性试验中的设计缺陷测试模型

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文章介绍了可靠性试验中关于设计缺陷测试的分段失效模型,从概率论的观点讨论了系统通过测试的期望概率和测试成功概率,综合起来讨论了成功通过测试后需要的平均重复成功测试次数,并给出了该模型的分析结果.

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来源
《中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会》|2004年|166-170|共5页
会议地点重庆
作者
吕高焕; 朱亮;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构;
关键词
级连系统; 设计缺陷; 分段失效模型; 系统生存概率; 可靠性试验; 电子产品;

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