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电磁干扰对电子元器件寿命试验影响和应变措施

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本文描述了电子元器件在寿命试验中受到的电磁干扰,寻找其干扰源,分析产生的干扰机理,从而采取有效措施,排除干扰,使寿命试验达到预期的目的.

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来源
《第四届电子产品防护技术研讨会》|2004年|103-107|共5页
会议地点安徽
作者
李碧珍;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构;
关键词
电子元器件; 寿命试验; 电磁干扰; 干扰源; 干扰机理;
入库时间 2022-08-17 11:02:57

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