纳米晶WC-Co硬质合金中WC晶粒度的定量测量

摘要

在改进的传统金相样品制备和Murakami侵蚀剂化学腐蚀条件下,场发射扫描电镜在10万倍放大倍率下可获得衬度良好、WC晶粒轮廓清晰的二次电子图像.用截线法定量测定了二次电子图像显示的纳料晶WC-Co硬质合金中WC晶粒度.结果表明:在适当的工艺条件下,添加微量新型VC基复合晶粒生长抑制剂可获得纳米尺度的高性能硬质合金:WC平均晶粒尺寸50nm,标准偏差为14nm,最大晶粒尺寸为110nm.