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微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析

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摘要

由于超导薄膜的表面阻抗Rs这一参量对超导微波元件的设计和开发有很重要意义,测量超导薄膜的表面阻抗Rs也就非常重要.本文分析了各个测量量对标准测量方案的测量精度,分析了在12GHz微波频率下,系统的各个实际部件的加工误差.认为频谱曲线的测量误差,即背景误差对最终测量结果Rs的影响是主要的.

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来源
《第八届全国超导学术研讨会》|2005年|711-716|共6页
会议地点上海
作者
吉争鸣; 吴培亨; 许伟伟; 孙国柱; 郭大元;
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作者单位

中国物理学会;

科技部;

国家超导中心;

中科院物理所;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类超导体、超导体材料;薄膜测量与分析;
关键词
高温超导体; 超导薄膜; 表面电阻; 测量误差;

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