首页> 中文会议>2005年全国射线检测技术及加速器检测设备和应用技术交流会 >高分辨CMOSX射线无损检测通用数字化成像装置

高分辨CMOSX射线无损检测通用数字化成像装置

摘要

本文介绍了一种高分辨CMOSX射线无损检测通用数字化图像成像装置.这种X射线无损检测通用数字化成像装置,除了利用原有X光机的X射线源,供给X射线的高压电源及控制系统外,提供一套含:转换屏、反射镜、专用的光学收集系统,CMOS光电转换器件,和与该器件有关信号输出的数据排列、整理及信号放大系统以及A/D变换器组合成专用的CMOS光电转换器件,以及含有图像处理、显示和扫描控制软件的计算机,代替原有的传统的胶片系统,构成新的数字化的图像记录器.该装置不仅成像清晰,快速成像,检测精度高,耗电量小,而且成本较低,对射线的抗辐照损伤性能比较强,延长了设备使用寿命:另外由于采用了这种X射线成像通用数字化成像装置,各种无损检测X射线机均可实现其图像数字化功能.省去烦琐的胶片处理和废水处理问题.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号