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多层电磁屏蔽拓扑图的分析方法及应用

摘要

屏蔽效应的研究对于防御电磁干扰,保证电子系统的正常工作是非常重要的.基于图论[1]知识中的对偶图思想,本文类似地构造出电子设备结构图其平面图的"对偶图",并由此建立了多层电磁屏蔽条件下分析系统电子器件之间相互耦合的电磁拓扑模型.由该方法得到的电磁拓扑图,更符合实际,简明且利于分析,再与已有的算法结合,得到需要改进的电磁耦合路径.通过仿真试验,证明我们的分析是有效的,可以用于大型复杂电子系统耦合问题的分析中.

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