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贾福桢; 周炜; 徐双珊;
中国计算机学会;
DDR; SSTL; 信号完整性; 存储器; 系统噪声;
机译:硅橡胶基片状接触的LPDDR4存储器测试的多层测试插入器的信号完整性设计和分析
机译:高速DDR存储器提高了存储器验证和测试的水平
机译:DDR高速缓存存储器第一个高度集成的PMIC,用于电池备份
机译:针对具有标准损耗FR-4材料和SNIA SFF-TA-1002连接器的高速DDR5差分DIMM通道的OpenCAPI存储器接口信号完整性研究
机译:用于DDR存储器应用的200-833 MHz延迟锁定环。
机译:通过改进的PSO减少DDR3高速总线上的反射
机译:LPDDR2存储器控制器刷新和时序控制器单元的设计与实现
机译:高性能内容寻址存储器的设计与实现
机译:测试模式可确保高速DDR DRAM的读取信号完整性
机译:用于结合存储器控制单元测试高速半导体存储器,尤其是DDR-DRAM的测试方法,其中测试信号由存储器控制单元或由其衍生的单元提供
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