首页> 中文会议>荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会 >用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜的组分和厚度

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜的组分和厚度

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

在X射线荧光(XRF)分析中应用基于基本参数法的FP-Multi软件,采用C固定道和Ti、Al和Si扫描道,以99.999％石墨及纯Al、Ti及SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析.薄膜厚度的结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果作比对.证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜厚度及成分是可行的.

著录项

来源
《荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会》|2006年|349-352|共4页
会议地点河北香河
作者
Chang Jianping; 常建平; Xie Yi; 谢毅; Tao Guangyi; 陶光仪;
展开▼
作者单位

帕纳科X射线分析仪器用户协会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类基础理论;
关键词
玻璃材料; 薄膜厚度; 化学组分; X射线荧光光谱; 基本参数法;
入库时间 2022-08-17 10:38:53

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜的组分和厚度 [J] . 常建平 ,谢毅 ,陶光仪 . 科学技术与工程 . 2006,第018期
2. 钴玻璃熔片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中各组分 [J] . 黄元 ,曾素红 . 福建分析测试 . 2011,第002期
3. 玻璃熔片制样X射线荧光光谱法测定矾土中主次量组分 [J] . 薛秋红 ,李静 ,丁玉龙 . 岩矿测试 . 2010,第002期
4. 玻璃熔融X射线荧光光谱法测定萤石中各组分 [J] . 杜燕 ,阚斌 . 科学技术与工程 . 2006,第018期
5. X射线荧光光谱法测定铝硅酸铅铋玻璃中多元组分 [J] . 李兵 ,罗重庆 . 冶金分析 . 1999,第6期
6. 玻璃熔片制样X射线荧光光谱法测定矾土中主次量组分 [C] . XUE Qiu-hong ,薛秋红 ,LI Jing . 2017年全国质检系统X射线分析技术学术研讨会 . 2017
7. 不同基材上N掺杂TiO2薄膜的制备及光催化性能研究 [A] . 秦桂容 . 2010

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C+TiO2薄膜的组分和厚度

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅