Si6N2团簇结构与性质的密度泛函理论研究

摘要

本研究用密度泛函理论(DFT)中的杂化密度泛函B3LYP方法, 在6-31G(d)的水平上对Si6N2团簇的可能结构进行了几何结构优化和电子结构计算, 得到了16个可能的异构体。Si6N2团簇的最稳定结构是有4个Si-N键和4个Si-Si键的三维结构。自然键轨道方法分析成键性质的结果表明,Si-N键中Si原子向N原子有较大的电荷转移,因此Si-N原子间有较强的电相互作用；最强的IR和Raman谱峰分别位于1359.14cm-1和1366.29cm-1处，并计算了Si6N2团簇的最稳定结构的极化率和超极化率。