X-射线荧光光谱法测定软锰矿石中锰和杂质成分

摘要

采用偏振能量色散X-射线荧光光谱仪测定软锰矿中锰和杂质成分,可把粉末样品经过适当稀释、混匀、压片和测量,其准确度和精密度尚比较满意.对主量元素Mn,Fe,SiO2,Al2O3的分析结果的相对标准偏差(RSD)较小;但低含量组分的CaO,MgO,S等由于含量低且是轻元素,RSD较大,符合低含量测量偏差大规律.由于能做到多元素快速分析,受到客户好评.