X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga_2O_3含量

摘要

用X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量。该方法快捷方便,准确度、精密度高,能满足科研和工业生产的需要。