X-射线荧光光谱法测定氢氧化铝中的杂质元素

摘要

本文探讨了粉末压片X-射线荧光光谱法测定氢氧化铝中二氧化硅、三氧化二铁、氧化钠的分析方法。拟定的分析方法用于生产样品分析，其测量结果与化学值吻合，氢氧化铝中各组分的标准偏差均小于6．7％。测量范围（％）：二氧化硅：0．006-0．009，三氧化二铁：0．0033-0．013，氧化钠：0．17-0．68。