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基于边界扫描的综合测试系统的研制

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通过边界扫描各标准的研究,分析了基于边界扫描的综合测试系统结构组成,并完成了基于USB接口的MTM总线(IEEE1149.5)主控制器以及具有TAP接口的MTM总线从控制器设计,开发了包含向量生成.故障诊断等功能的上位机软件,最后组建了整个系统.对验证电路的测试结果表明:该系统可对支持IEEE1149.1和1149.4的电路进行数字和模拟测试.

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来源
《第十七届全国测试与故障诊断技术研讨会》|2008年|88-92|共5页
会议地点杭州
作者

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作者单位

中国计算机自动测量与控制技术协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、检验;
关键词
边界扫描; 综合测试系统; 主控制器; 故障诊断; 电路测试;
入库时间 2022-08-17 11:09:46

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