首页> 中文会议>第四届全国脉冲功率会议 >基于传输法及准点X光源相位差照相的应用及关键技术分析

基于传输法及准点X光源相位差照相的应用及关键技术分析

摘要

相位差成像非常适合于弱吸收物质的高分辨率成像,本文总结了目前最主要的相位差成像方法,即基于干涉仪的X射线相位差成像,基于传输的X射线相位差成像,基于分析晶体的X射线相位差成像,以及基于光栅的X射线相位差成像.并针对其中研究最多、最接近临床应用的基于传输法的相位差成像方法,讨论了基于传输法的相位差成像实验的关键技术,以及影响其成像分辨率的最重要的因素——准点X光源的各种实现技术,给出了原子能院利用X-pinch准点光源得到的相位差图像,讨论了各种准点X光源的性能的限制因素,特别是限制微聚束X光管源点尺寸的因素,并介绍了原子能院拟进行的相关研究.最后对基于传输法及准点X光源相位差照相的应用进行了简要介绍.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号