低能B离子辐照C60薄膜的红外光谱学研究

摘要

用傅立叶变换红外(FTIR)光谱分析了能量为170keV的B离子在C60薄膜中引起的辐照效应.利用FTIR谱数据演绎出了C60分子的损伤截面σ和损伤半径R.比较了C60分子的4个红外激活模对辐照的敏感性与结构稳定性.分析结果表明红外激活模中的T1u(4)对辐照最为敏感.而T1u(2)相对稳定。