首页> 中文会议>帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会 >X射线荧光光谱法测定重晶石的化学成分

X射线荧光光谱法测定重晶石的化学成分

摘要

研究应用X射线荧光光谱分析法测定重晶石中多种元素.采用熔融片制样,从而消除矿物结构效应,并降低基体效应的影响,研究了熔样的条件,确定仪器最佳参数,最后建立工作曲线.经过实验证明,本法快速、准确,能很好地对重晶石进行测定,不仅大大缩短了分析时间,提高了工作效率,而且降低了劳动强度.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号