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吴奕初; 符琴敏; 胡懿; 姜静; 薛旭东; 李培海; 翟同广;
中国材料研究学会;
纯铝; 铝合金; 金属腐蚀; 界面缺陷层; 正电子湮没; 铜富集过程;
机译:慢正电子束光谱法研究AA2037铝合金在碱性水溶液中的腐蚀。
机译:通过使用DDRS4PALS的半模拟/数字设置获取的正电子湮没寿命光谱(PAL)上的纯锡数据
机译:通过正电子湮没寿命光谱法纯α-铁中氢诱导缺陷的应变率依赖性
机译:用正电子湮没光谱研究的商用纯Al和Al-Mn合金中缺陷结构的力学性能的相关性
机译:正电子湮没光谱技术的新开发:从实验设置到高级加工软件
机译:腐蚀性和腐蚀保护含有铝合金的铝合金 - 批判性评论
机译:正电子湮没法研究钛的腐蚀缺陷
机译:正电子湮没研究陶瓷和薄膜pb(Zr,Ti)O3材料中的空位相关缺陷
机译:用于正电子湮没特性的测量装置和测量方法
机译:用于测量正电子湮没寿命的装置,调整辐射测量仪的方法,以及辐射测量仪
机译:使用关于联邦资助的研究的模型预测性控制声明来维持超负荷的生理区域本发明是在政府的支持下完成的,该研究是由美国国立卫生研究院(National Institutes of Health)授予的拨款号ROI-DK0856628-01进行的。美国政府享有本发明的某些权利。 (相关申请的交叉引用)S.C.§119要求2010年10月12日提交的临时申请61 / 392,399的优先权,其公开内容通过引用合并于此。
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