首页> 中文会议>第十八届全国半导体物理学术会议 >硅材料中电光效应的测量与区分

硅材料中电光效应的测量与区分

摘要

提出了一种实验方法,可以将硅中的Kerr效应、场致线性电光效应、和载流子色散效应有效区分开来,并分别获得这些效应对电光调制作用的贡献大小,对此进行了概述。

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