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HIGH-HEAT DISSIPATION IGBT POWER SEMICONDUCTOR PACKAGE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR

机译:高散热IGBT功率半导体封装及其制造方法

摘要

A power semiconductor package of the present invention may comprise: a power semiconductor chip; a copper layer disposed under the power semiconductor chip; an epoxy insulating layer disposed under the copper layer; a metal base plate disposed under the epoxy insulating layer; and a heat sink disposed under the metal base plate, wherein the epoxy insulating layer comprises an aminophenol-based epoxy resin.
机译:本发明的功率半导体封装可以包括:功率半导体芯片; 一个铜层设置在功率半导体芯片下方; 设置在铜层下的环氧绝缘层; 设置在环氧树脂绝缘层下的金属底板; 设置在金属基板下方的散热器,其中环氧树脂绝缘层包含氨基苯酚基环氧树脂。

著录项

  • 公开/公告号WO2022014863A1

    专利类型

  • 公开/公告日2022-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TERAON CO. LTD.;

    申请/专利号WO2021KR06943

  • 发明设计人 KIM YOON-JIN;KIM HYUN-JUN;JANG SANG-HYUN;

    申请日2021-06-03

  • 分类号H01L23/29;H01L23/485;H01L23/373;H01L23/488;H01L29/739;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2024-06-14 22:42:22

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