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MEMORY DEVICE ACTIVITY-BASED COPYING DEFECT MANAGEMENT DATA

机译:基于内存设备的活动的复制缺陷管理数据

摘要

Various embodiments described herein provide for copying (e.g., to cache) a portion of defect management data for a block of a memory device, such as a non-volatile memory device of a memory sub-system, based on activity of the memory device. For instance, the portion of defect management data can be copied from a first-type memory device of the memory sub-system to a second-type memory device of the memory sub-system, where the first-type memory device stores defect management data for a working set of blocks of the non-volatile memory device being operated upon by the memory sub-system, where the second-type memory device is used to store defect management data for an active block of the working set of blocks, and where the second-type memory device has a faster access (e.g., read or write access) than the first-type memory device.
机译:本文描述的各种实施例提供用于基于存储器设备的活动的存储器设备的块的缺陷管理数据的缺陷管理数据的一部分,例如存储器子系统的非易失性存储器设备。 例如,缺陷管理数据的部分可以从存储器子系统的第一型存储器设备复制到存储器子系统的第二类型存储器设备,其中第一型存储器设备存储缺陷管理数据 对于由存储器子系统操作的非易失性存储器设备的工作组,其中第二型存储器设备用于存储用于工作组的活动块的缺陷管理数据,以及其中的位置 二型存储器设备具有比第一型存储器设备更快的访问(例如,读取或写入访问)。

著录项

  • 公开/公告号US2022019502A1

    专利类型

  • 公开/公告日2022-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US202016931178

  • 发明设计人 SAI KRISHNA MYLAVARAPU;

    申请日2020-07-16

  • 分类号G06F11/10;G06F11/07;G06F11/30;G06F12/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 23:24:17

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