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METHOD FOR MANUFACTURING A DETECTION STRUCTURE WITH AN OPTIMISED ABSORPTION RATE, AND SAID STRUCTURE

机译:制造具有优化吸收率的检测结构和所述结构的方法

摘要

A method for forming a detection structure for detecting electromagnetic radiation includes an MOS transistor as a transducer. The method is based on the use of lateral extension elements as a doping mask for the semiconductor layer of the transistor and an etching mask for the same semiconductor layer, in order to provide contact portions of a drain and a source of the transistor.
机译:用于形成用于检测电磁辐射的检测结构的方法包括MOS晶体管作为换能器。 该方法基于作为晶体管的半导体层的掺杂掩模的横向延伸元件的使用和用于相同半导体层的蚀刻掩模,以提供漏极和晶体管的源极的接触部分。

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