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IMPLEMENTATION OF DEEP NEURAL NETWORKS FOR TESTING AND QUALITY CONTROL IN THE PRODUCTION OF MEMORY DEVICES

机译:内存设备生产中测试和质量控制深度神经网络的实现

摘要

Techniques are presented for the application of neural networks to the fabrication of integrated circuits and electronic devices, where example are given for the fabrication of non-volatile memory circuits and the mounting of circuit components on the printed circuit board of a solid state drive (SSD). The techniques include the generation of high precision masks suitable for analyzing electron microscope images of feature of integrated circuits and of handling the training of the neural network when the available training data set is sparse through use of a generative adversary network (GAN).
机译:提出了用于将神经网络应用于集成电路和电子器件的制造的技术,其中给出了用于制造非易失性存储电路的实例和固态驱动器的印刷电路板上的电路部件的安装(SSD )。 该技术包括产生高精度掩模,适用于分析集成电路的特征的电子显微镜图像和处理神经网络的训练,当可用的训练数据集通过使用生成的对手网络(GaN)而稀疏。

著录项

  • 公开/公告号US2021397170A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SANDISK TECHNOLOGIES LLC;

    申请/专利号US202117465305

  • 发明设计人 FEI ZHOU;CHENG-CHUNG CHU;RAGHUVEER MAKALA;

    申请日2021-09-02

  • 分类号G05B19/418;G05B13/02;H01L21/66;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 22:59:28

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