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Tester and method for testing a device under test using relevance scores

机译:测试仪和用于使用相关性分数进行测试的设备的方法

摘要

A tester for testing a device under test is shown, having a test unit configured for performing a test of the device under test using multiple test cases, each test case having variable values of a set of predetermined variables, the test units configured to derive an output value for each test case indicating whether the device under test validly operates at a current test case or whether the device under test provides an error at the current test case; and an evaluation unit configured for evaluating the multiple test cases based on a plurality of subsets of the predetermined input variables with respect to the output value, the evaluation unit configured for providing a number of plots of the evaluation of the multiple test cases where each plot indicates the impact of one subset of the plurality of subsets of the predetermined input variables to the output value in dependence on respective relevance scores or associated with the respective relevance scores.
机译:用于测试被测设备的测试仪,具有配置用于使用多个测试用例进行测试的测试单元,每个测试用例具有一组预定变量的变量,测试单元被配置为导出 每个测试用例的输出值,指示正在测试的设备是否有效地在当前测试用例下运行,或者在测试的设备是否在当前测试用例中提供错误; 和一个评估单元,用于基于相对于输出值的预定输入变量的多个子集来评估多个测试用例,该评估单元被配置用于提供每个绘图的多个测试用例的评估的评估的多个曲线图 表示预定输入变量的多个子集的一个子集的影响依赖于各个相关性分数或与各个相关性分数相关联。

著录项

  • 公开/公告号US11200156B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANTEST CORPORATION;

    申请/专利号US201916548653

  • 发明设计人 JOCHEN RIVOIR;

    申请日2019-08-22

  • 分类号G06F11/36;

  • 国家 US

  • 入库时间 2024-06-14 22:31:28

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