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POLISHING PAD, AND POLISHING METHOD USING SAME

机译:抛光垫和使用相同的抛光方法

摘要

There are provided a polishing pad and a polishing method using the same that are useful for removing the surface waviness of a curved resin-painted surface at a high polishing removal rate. A polishing pad (10) according to one aspect of the present invention includes a layer having a polishing surface (30). The layer having the polishing surface (30) has a sparse and dense structure in which a proportion of a sparse portion of the polishing surface (30) is 52% or more and 96% or less, and is composed of a sheet material having an A hardness of 70 or more measured according to JIS K 6253.
机译:提供一种抛光垫和使用该抛光方法,其可用于以高抛光去除速率去除弯曲树脂涂漆表面的表面波纹。 根据本发明的一个方面的抛光垫(10)包括具有抛光表面(30)的层。 具有抛光表面(30)的层具有稀疏和致密的结构,其中抛光表面(30)的稀疏部分的比例为52%以上,96%以下,并且由具有型片材组成 根据JIS K 6253测量的硬度为70或更高。

著录项

  • 公开/公告号EP3858546A4

    专利类型

  • 公开/公告日2021-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJIMI INCORPORATED;

    申请/专利号EP20190864156

  • 申请日2019-09-12

  • 分类号B24B37/24;B24B19/26;B24B29;B24B37;B24B37/22;B24B37/26;B24D3/32;B24D11;B24D13/14;B24D15/04;C09G1/02;C09K3/14;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-24 22:17:08

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