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Detector arrangement for an X-ray phase contrast system and method for X-ray contrast imaging

机译:用于X射线相位对比系统的检测器布置和X射线对比度成像的方法

摘要

The present invention relates to a detector arrangement for an X-ray phase contrast system (5), the detector arrangement (1) comprising: a scintillator (11); an optical grating (12); and a detector (13); wherein the optical grating (12) is arranged between the scintillator (11) and the detector (13); wherein the scintillator (11) converts X-ray radiation (2) into optical radiation (3); wherein the optical grating (12) is configured to be an analyzer grating being adapted to a phase-grating (21) of an X-ray phase contrast system (5); wherein the optical path between the optical grating (12) and the scintillator (11) is free of focusing elements for optical radiation. The present invention further relates to a method (100) for performing X-ray phase contrast imaging with a detector arrangement (1) mentioned above. The invention avoids the use of an X-ray absorption grating as G2 grating in an X-ray phase contrast interferometer system.
机译:X射线相位对比系统(5)的检测器装置技术领域本发明涉及一种用于X射线相位造影系统(5)的检测器装置,所述检测器装置(1)包括:闪烁体(11); 光学光栅(12); 和探测器(13); 其中光栅(12)布置在闪烁体(11)和检测器(13)之间; 其中闪烁体(11)将X射线辐射(2)转换为光学辐射(3); 其中光学光栅(12)被配置为分析仪光栅,适用于X射线相位对比系统(5)的相位光栅(21); 其中光栅(12)和闪烁体(11)之间的光路不具有用于光学辐射的聚焦元件。 本发明还涉及一种用于执行与上述检测器装置(1)进行X射线相位对比度成像的方法(100)。 本发明避免使用X射线吸收光栅作为X射线相位对比干涉干涉干涉仪系统中的G2光栅。

著录项

  • 公开/公告号US11156725B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KONINKLIJKE PHILIPS N.V.;

    申请/专利号US201816498532

  • 发明设计人 ROLAND PROKSA;

    申请日2018-03-27

  • 分类号G01T1/20;G21K1/06;G21K1/16;G01N23/041;G21K4;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 21:53:18

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