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Contact etchback in room temperature ionic liquid

机译:室温离子液体中的接触蚀刻刷

摘要

The present disclosure provides an integrated circuit with an interconnect structure and a method for forming the integrated circuit. In one embodiment, a method of the present disclosure includes receiving a workpiece that includes a first recess in a dielectric layer over the workpiece, depositing a contact fill in the first recess and over the dielectric layer to form a contact feature, planarizing a top surface of the workpiece to remove the contact fill over the dielectric layer, depositing an interlayer dielectric layer over the planarized top surface of the workpiece, forming a second recess in the interlayer dielectric layer to expose the contact fill in the dielectric layer, recessing the contact fill by soaking the workpiece in a room temperature ionic liquid, and depositing a conductive layer over the recessed contact fill. The material forming the contact fill is soluble in the room temperature ionic liquid.
机译:本公开提供了一种具有互连结构的集成电路和用于形成集成电路的方法。 在一个实施例中,本公开的方法包括接收包括在工件上的介电层中的第一凹陷的工件,在第一凹槽和介电层上沉积接触填充以形成接触特征,平坦化顶表面 在工件中除去介电层上的接触填充物,在工件的平坦化顶表面上沉积层间介电层,在层间介电层中形成第二凹槽,以暴露在介电层中的接触填充物,凹陷接触填充物 通过将工件浸泡在室温离子液体中,并在凹陷的接触填充物上沉积导电层。 形成接触填充物的材料可溶于室温离子液体中。

著录项

  • 公开/公告号US11145544B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO. LTD.;

    申请/专利号US201916407951

  • 发明设计人 ANDREW JOSEPH KELLY;

    申请日2019-05-09

  • 分类号H01L21/76;H01L21/768;H01L21/285;C23F1/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 21:36:33

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