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Anomaly detection device for inspection objects and abnormality detection method for inspection objects

机译:用于检测对象的异常检测装置和检查对象的异常检测方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique capable of making an abnormal MD value larger than a normal MD value. As shown in FIG. (C), in the sample line L4, although all the waveforms A are present on the sample line L4, the sample line L4 is not shaded. That is, when the waveform A does not intersect the sample line L4 and the change amount becomes zero, the abundance amount is set to zero. [Selection diagram] Fig. 5
机译:要解决的问题:提供一种能够使MD值的异常大于普通MD值的技术。 如图1所示。 (c),在样品线L4中,尽管样品管线L4上存在所有波形A,但是样品管线L4不受影响。 也就是说,当波形A不与样品线L4相交并且变化量变为零时,大量量被设置为零。 [选择图]图5

著录项

  • 公开/公告号JP2021148677A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 田中精密工業株式会社;

    申请/专利号JP20200050477

  • 发明设计人 石澤 剛士;

    申请日2020-03-23

  • 分类号G01H3/10;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 21:16:55

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