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THIN FILM SPECIMEN FOR TENSILE TEST AND PHYSICAL PROPERTY EVALUATION METHOD FOR THIN FILM SPECIMEN

机译:薄膜试样及薄膜标本的拉伸试验及物理评价方法

摘要

The present invention relates to a physical property evaluation method for a thin film specimen and a thin film specimen for a tensile test. In the present invention, a digital image correlation analysis method is used to analyze a deformation ratio of a speckle pattern formed on a thin film specimen in a tension test for the thin film specimen. Therefore, the present invention can enhance the reliability of a measured physical property and prevent abnormal breaking of a metal thin film specimen.
机译:本发明涉及一种用于薄膜样本的物理性质评价方法和用于拉伸试验的薄膜样本。 在本发明中,使用数字图像相关分析方法来分析在薄膜样品的张力试验中形成在薄膜样品上形成的散斑图案的变形比。 因此,本发明可以增强测量的物理性质的可靠性,并防止金属薄膜样本的异常断裂。

著录项

  • 公开/公告号WO2021177569A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LG ENERGY SOLUTION LTD.;

    申请/专利号WO2020KR19049

  • 发明设计人 LEE HAN SOL;CHOI JEE SOON;CHOI YONG SEOK;

    申请日2020-12-24

  • 分类号G01N3/08;G01N3/06;G01B11/16;G01N15/02;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 20:58:52

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