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DETECTING DEFECTS IN ARRAY REGIONS ON SPECIMENS

机译:检测标本上阵列区域的缺陷

摘要

Methods and systems for detecting defects in an array region on a specimen are provided. One method includes determining a center of a page break in output generated by an inspection subsystem for a specimen in an array region. The page break separates cell regions in the array region, and the cell regions include repeating patterned features. The method also includes determining an offset between the center of the page break in the output and a center of the page break in a design for the specimen and identifying portions of the output that correspond to care areas in the array region based on the offset. In addition, the method includes detecting defects in the array region by applying a defect detection method to the portions of the output that correspond to the care areas.
机译:提供了用于检测样本上的阵列区域中的缺陷的方法和系统。 一种方法包括确定由阵列区域中的检验子系统产生的输出中的页面中断的中心。 页面破裂将单元区域分离在阵列区域中,并且小区区域包括重复图案化特征。 该方法还包括确定在输出中的页面中的中心和页面中的中心的中心之间的偏移,以及基于偏移的阵列区域中的护理区域对应于对应于阵列区域中的护理区域的输出的部分之间的偏移。 另外,该方法包括通过将缺陷检测方法应用于对应于护理区域的输出的部分来检测阵列区域中的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号WO2021162884A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KLA CORPORATION;

    申请/专利号WO2021US16115

  • 申请日2021-02-01

  • 分类号G01N21/956;G01N21/88;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 20:43:14

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