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Sense amplifiers in low power and high performance SRAMs

机译:读取低功耗和高性能SRAM的读出放大器

摘要

In described examples, a static random access memory (SRAM) includes an array of storage cells and a first sense amplifier (208). The array of storage cells is arranged as rows and columns. The rows correspond to word lines, and the columns correspond to bit lines. The first sense amplifier (208) includes a first transistor (410) and a second transistor (412). The first sense amplifier (208) is configured to provide a first read of a first storage cell of the array of storage cells. Based on the first read of the first storage cell failing to correctly read data stored in the first storage cell, the first sense amplifier (208) is configured to increment a body bias of the first transistor (410) a first time. In response to the body bias of the first transistor (410) being incremented, the first sense amplifier (208) is configured to provide a second read of the first storage cell.
机译:在所述示例中,静态随机存取存储器(SRAM)包括存储单元阵列和第一读出放大器(208)。 存储单元阵列被排列为行和列。 行对应于字线,列对应于位线。 第一读出放大器(208)包括第一晶体管(410)和第二晶体管(412)。 第一读出放大器(208)被配置为提供第一存储单元的第一存储单元的第一读取。 基于第一存储单元的第一存储单元未能正确读取存储在第一存储单元中的数据,第一读出放大器(208)被配置为第一次将第一晶体管(410)的体偏压增加。 响应于第一晶体管(410)的身体偏置递增,第一读出放大器(208)被配置为提供第一存储单元的第二读取。

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