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Method for analyzing the performance of multiple test instruments measuring the same type of part

机译:用于分析测量相同类型的多个测试仪器性能的方法

摘要

A method for operating a data processing system to analyze data sets for groupings and a computer readable medium having instructions to execute that method are disclosed. The method includes causing the data processing system to receive a plurality of data sets, each data set including a plurality of values characterized by a statistical distribution and a label. The method also includes causing the data processing system to compute a plurality of statistical parameters for each of the plurality of data sets, to generate a data set vector having components equal to the plurality of statistical parameters for each of the plurality of data sets, to assign each data set to a cluster based on the data set vectors using a clustering algorithm, and to generate a display of the statistical distributions as a function of the labels in which the statistical distributions belonging to the same cluster are grouped together.
机译:一种用于操作数据处理系统的方法,以分析用于分组的数据集和具有执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集,每个数据集包括以统计分布和标签为特征的多个值。该方法还包括使数据处理系统为多个数据集中的每一个计算多个统计参数,以生成具有与多个数据集中的每个数据集中的多个统计参数等于多个统计参数的数据集向量。基于使用聚类算法的数据集向量将每个数据集分配给群集,并生成统计分布的显示作为所在标签的函数,其中属于与相同的群集的统计分布一起被分组在一起。

著录项

  • 公开/公告号US11036470B2

    专利类型

  • 公开/公告日2021-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KEYSIGHT TECHNOLOGIES INC.;

    申请/专利号US201715798345

  • 发明设计人 JONATHAN HELFMAN;

    申请日2017-10-30

  • 分类号G06F16/23;G06F7/08;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 19:19:39

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