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机译:用于通过电离室进行辐射测量的设备,最好用于X射线
公开/公告号DE362456C
专利类型
公开/公告日1922-10-27
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS & HALSKE AKT.-GES.;
申请/专利号DE1920S053637D
发明设计人
申请日1920-07-07
分类号H01J47/02;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 12:16:15
机译: 电离室探测器系统,用于探测和测量包括β,γ和X射线辐射在内的核辐射
机译: 电离室,用于绝对测量能量传输和电离辐射定向流的强度
机译: 测量电离室和敏感介质中电离辐射吸收剂量的装置