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method of determination of the roughness of the surface density

机译：表面密度粗糙度的测定方法

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机译：

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公开/公告号SU55174A1

专利类型
公开/公告日1938-11-30

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申请/专利权人 EPSHTEJN A.YA.;
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申请/专利号SU19380020167
发明设计人 EPSHTEJN A.YA.;
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申请日1938-11-28
分类号G01B7/34;
国家 SU
入库时间 2022-08-24 05:10:58

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