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机译：在经验丰富的情况下测量小频率差或波纹层窄的过程
公开/公告号DE860082C
专利类型
公开/公告日1952-12-18
原文格式PDF
申请/专利权人 NORDWESTDEUTSCHER RUNDFUNK;
申请/专利号DE1951N003987
发明设计人 MOHR EDGAR DR.;VOIGT HEINZ;THIESSEN PAUL DIPL.-ING.;
申请日1951-06-05
分类号G01R23/00;H04H20/67;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 00:34:11
机译： 轴的设备-和/或频率测量或超短波，特别是分米的频率显示-和/或厘米波纹层狭窄区域
机译： 一种用于在光学传输系统中对所产生的波纹层进行狭窄的选择性测量的方法，其衰减了光辐射的强度
机译： 制备用于在约200至约2500nm的窄范围内的波纹层中进行分光光度法测量的硫酸钡检测状态的方法
