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机译：一种精确测量衰减值的方法
公开/公告号DE889017C
专利类型
公开/公告日1953-09-07
原文格式PDF
申请/专利权人 ALLGEMEINE ELEKTRICITAETS-GESELLSCHAFT;
申请/专利号DE1940A010501D
发明设计人 SEIDEL WERNER DIPL.-ING.;
申请日1940-09-21
分类号G01R27/28;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 00:29:31
机译： 用于网络分析仪等的频域测量，从而对衰减值进行希尔伯特变换，以根据反射测量获得更准确的相位计算
机译： 精确测量辐射衰减的方法用光子辐射来测量冶金厂中的纸张厚度，包括通过连续计算指定的代数方程来计算平均衰减值
