首页> 外国专利> Arrangement for elimination of the unequal maes strength caused by deflection feldverhaeltnisse the deflection coil in the vicinity of the photocathode of bildfaengerroehren with probes scanning

Arrangement for elimination of the unequal maes strength caused by deflection feldverhaeltnisse the deflection coil in the vicinity of the photocathode of bildfaengerroehren with probes scanning

机译:用探针扫描消除比尔德法恩格罗伦光电阴极附近的偏转线圈引起的偏转引起的梅斯强度不均的装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE893661C

    专利类型

  • 公开/公告日1953-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FERNSEH G.M.B.H.;

    申请/专利号DE1939F004606D

  • 发明设计人 HARKENSEE GEORG;

    申请日1939-08-27

  • 分类号H01J31/42;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-24 00:28:51

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号