首页> 外国专利> Microscope for the visualization of surfaces - and layer structures with the aid of a on the specimens sharply imaged and obliquely to the light incidence direction observed bright and dark edge

Microscope for the visualization of surfaces - and layer structures with the aid of a on the specimens sharply imaged and obliquely to the light incidence direction observed bright and dark edge

机译:显微镜用于表面和层结构的可视化,借助样品上的a清晰成像并倾斜于光入射方向,观察到明暗边缘

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE915989C

    专利类型

  • 公开/公告日1954-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EMIL BUSCH A.G. OPTISCHE INDUSTRIE;

    申请/专利号DE1941B004984D

  • 发明设计人 URSINUS OTTO;

    申请日1941-12-11

  • 分类号G01B9/04;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 23:55:49

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号